Anritsu 安立知宣佈，村田製作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，成功解析了 USB 3.2 通訊過程中導致雜訊產生的機制。
USB 3.2 通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路 (WLAN) 和 Bluetooth 無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。
村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標準組織 USB 3.2 RFI 系統級測試的電磁雜訊測試環境，並於該環境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A，釐清了導致雜訊產生的機制。
Anritsu 安立知致力於建立雜訊抑制解決方案，其結合了村田 Murata 在雜訊控制方面的專業技術和共模扼流線圈，可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。
