吳誠文任工研院南分院執行長 推動南臺灣科技轉型 (2020.07.02)

工研院日前宣布，代協理吳誠文博士升任工研院協理，並兼任工研院南分院執行長，將借重其在晶片半導體與AI運算領域上的前瞻洞察力與專業能力，以及其近年致力產學研合作的能量，協助工研院推動南臺灣的產業科技加值與創新產業布局，帶動產業轉型，提昇區域力…

物聯網測試需求增 愛德萬以高整合解決方案備戰 (2017.09.06)

隨著物聯網趨勢的崛起，半導體自動測試設備供應商愛德萬測試(Advantest) 近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性，持續推出整合性更高的量測解決方案，滿足低階至高階、晶片至系統層級，以及研發端至產線的各種量測需求。 除了完善的V930…

提昇任意波形產生器的價值 (2005.09.05)

電子產品的設計與製造，必須測試複雜電路或子系統，且需要驗證來自元件或感測器的信號。新世代任意/函數訊號產生器必須提供電子設計工程師滿足類比與內建處理器應用需求，例如各種多樣的訊號源、供應高訊號頻率、高傳真訊號複製與穩定的時脈訊號。本文將介紹新一代任意/函數訊號產生器所需具備的多種功能。…

類比/混合訊號之內建式自我測試電路 (2005.07.05)

在電路設計要求功能強大且又快又好的趨勢下，IC設計廠商也不得不對外取得矽智產，對於如何驗證與修改外部取得的矽智產以符合自己公司需求亦為IC設計廠商的重點。因此可量測性設計（Design for Testability；DfT）的技術亦顯得日益重要。…

提高IC測試品質的設計策略 (2005.05.05)

奈米製程讓IC測試品質面臨許多新挑戰，本文將介紹各種可用以提高測試品質的可測試設計策略；例如利用可準確產生時脈週期之PLL來進行實速測試，以及全速式記憶體內建自我測試等。這些技術都不會增加測試時間或有任何設計上之限制，亦不需要改變測試機台之介面。…

可測試性設計技術趨勢探索 (2005.05.05)

當IC設計日益複雜化，尋找更具成本效益的測試方法成為一大課題；本文將介紹國內可測試性設計（Design for Test）技術的發展現況，包括類比/混合訊號電路的內建自我測試技術（Analog/Mixed Signal Built-In-Self-Test；AMS BIST）、記憶體測試技術（Memory Testing），以及整合核心電路測試機制的系統晶片測試架構（SoC Testing）等技術。…