是德科技（Keysight）推出4881HV高電壓晶圓測試系統，擴展其半導體測試產品組合。該解決方案可實現高達3kV的參數測試，支援一次性完成高、低電壓測試，進而提高功率半導體製造商的生產效率。
傳統上，製造商需使用不同的測試儀器分別量測晶圓的高、低電壓。 然而，由於功率半導體的需求因其多功能性、高性能及新一代設備如碳化矽（SiC）和氮化鎵（GaN）的出現而迅速增長，客戶極需更準確、高效的量測解決方案，以縮短產品上市的時間。是德科技的解決方案透過協助功率設備製造商在生產過程中執行製程控制監控（PCM）和晶圓接受測試（WAT），克服了這些挑戰。
