旺矽以TITAN探針結合晶圓級量測 開創次太赫茲精準測試新局 (2025.09.15)
旺矽科技宣布推出支援是德科技（Keysight Technologies）最新 NA5305A/7A PNA-X 擴頻模組的 250 GHz 寬頻測試解決方案，正式開啟次太赫茲應用精準測試的新篇章。此方案結合旺矽在次太赫茲探測與晶圓級量測領…
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是德科技協助瑞聲科技推出商業化高效能5G毫米波前端解決方案 (2019.05.08)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前宣布旗下的 5G解決方案獲先進微型化技術領導供應商瑞聲科技（AAC Technologies）選用，以推出適用於下一代行動電話和基地台的高效能5G毫米波前端解決方案。 瑞聲…
是德科技將低頻雜訊分析儀緊密整合入晶圓級解決方案平台 (2016.07.22)
先進低頻雜訊分析儀與WaferPro Express的整合，可實現統包式雜訊量測解決方案，並提供直流特性、電容和RF S參數量測功能。 是德科技（Keysight）日前發表最新版的高效能先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體，以協助工程師執…
是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件…
安捷倫與Cascade Microtech聯手協助工程師簡化射頻測試 (2014.07.07)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣佈與Cascade Microtech建立策略聯盟，雙方將共同提供經過完整配置與驗證的晶圓級射頻量測解決方案，以協助工程師加速進行晶圓級半導體量測。同時，兩家公司還共同提…