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搜尋「雜訊指數量測」,共 10

為了提升儀器介面的易用性與效能,並提供工程師更好的使用經驗,是德科技(Keysight)推出了新款的Keysight X系列信號分析儀,可顯著增強開發工程師設計新一代裝置的能力。新機型最令人矚目的是多點觸控操作介面(UI),讓量測設定變得更

是德科技(Keysight)日前推出新款Keysight X系列信號分析儀,可顯著增強開發工程師設計新一代裝置的能力。新機型最令人矚目的是多點觸控操作介面(UI),讓量測設定變得更順暢,並且為新解決方案奠定更紮實的基礎。此外,新的分析儀在效

羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz,R&S) 正式推出兩款全新訊號量測產品:R&S FSWP相位雜訊與 VCO 分析儀與R&S FPH新一代手持式頻譜分析儀。 R&S FSWP 提供了靈敏度達typ. –175 dBc (1 Hz

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈旗下PNA-X網路分析儀推出新的信號源修正雜訊指數量測選項,除了將頻率延伸至43.5 GHz和50 GHz之外,並持續提供業界最高的雜訊指數量測準確度。該技術內建於PNA-

安捷倫科技(Agilent)於本週二(5/25)宣佈,推出旗下PNA-X系列微波網路分析儀適用的選項028。該新選項將為放大器、頻率轉換器和混頻器,提供高達50 GHz的準確、源端修正式雜訊指數量測。 安捷倫表示,配置選項028的PNA-X

於羅馬舉行的2009年歐洲微波通訊週,R&S展示出其最新的ZVA67,首台R&S向量網路分析儀頻率涵蓋範圍從10MHz至67GHz。繼承於現有的R&S ZVA系列,它同時是量測速度最快及最高動態範圍的向量網路分析儀。來自研發單位的使用者可以

最新的R&S ZVAB-K30選項可用於R&S ZVB、R&S ZVA及R&S ZVT向量網路分析且可對線性及頻率轉換的雙埠元件作雜訊指數量測。 在射頻及微波領域裡,雜訊指數量測是一項基本的應用。搭配最新的R&S ZVAB-K30雜訊指數量

安捷倫科技(Agilent Technologies)宣佈,旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出源端修正式(source-corrected)雜訊指數量測選項,此高效能的雜訊指數量測技術具有極高的準確度。將此選項直接內建在Agilent