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搜尋「Ball Array」,共 103

晶片應用日益複雜,精密度不斷提升,在執行高加速應力試驗時,容易產生「電化學遷移」(ECM)現象,本文將從外至內深入探討此問題,並分享如何預防ECM現象發生。

宜特宣布,近日引進真空壓力烤箱,可依據不同膠材黏度調整真空及壓力參數,做到0 % Void,徹底將Underfill製程品質做到最好,避免因Void原因,影響可靠度測試結果。 宜特指出,現階段,晶片採取細小間距的球閘陣列封裝(Ball gr

是德科技(Keysight)日前推出BGA(球柵陣列)內插式探棒解決方案,讓工程師能夠使用邏輯分析儀測試DDR4 x16 DRAM(動態隨機存取記憶體)設計。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA內插式探棒解決方案