搜尋

會員登入

搜尋

導覽

會員
廣告
類別:
關鍵字:

搜尋「量測技術」,共 345 筆

隨著AI晶片朝Chiplet、HBM堆疊及3D先進封裝發展,半導體製程對晶圓潔淨度、表面形貌與精密量測的要求持續提高。半導體設備業者ACM Research與Wooptix近日於SEMICON West揭露最新技術布局,顯示清洗、沉積及晶圓…

從軍警射擊訓練的電子紙靶、非接觸式生理量測的透明顯示,到AI互動藝術及多語辨識服務,臺灣顯示技術正從單純畫面演繹,走向多元服務。在今年經濟部產業發展署電子資訊產業組光電科相關計畫推動成果,可看出業者將既有顯示技術,運用AI感測,帶進醫療、軍…

AI伺服器競爭正在從GPU、HBM與高速網路向更上游材料及製程設備延伸。隨著高速訊號、功耗與PCB層數增加,Low-Dk玻纖布、低粗糙度銅箔與高階CCL成為AI硬體升級的重要基礎;另一方面,材料結構愈複雜,也同步拉高X-射線(X-ray)等…

人工智慧帶動資料中心高速傳輸需求攀升,搶攻AI算力商機,經濟部產業技術司的「2026台灣創新技術博覽會(TIE)」於今(17)日登場,今年以「AI賦能創新,永續邁向未來」為主軸,規劃四大展區—創新經濟館、未來科技館、智慧永續館及發明競賽區,…

當半導體製程持續微縮、量子與二維材料快速發展,量測技術也面臨更高精度與可靠度的要求。由工研院共同舉辦的全球先進材料標準化合作平台「凡爾賽先進材料與標準計畫(Versailles Project on Advanced Materials a…

imec的量測專家在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,提供imec前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展需求。…

提升AI晶片供給,關鍵不只在晶圓產能,更在於先進封裝、測試與量測能力能否同步跟上。隨著製程持續微縮、晶片與封裝架構日益複雜,測試不僅要驗證功能與效能是否符合要求,量測更需精準掌握製程參數與微小偏差。由於AI晶片價值與複雜度持續攀升,也讓測試…

imec的量測專家將在本文帶領讀者探索深耕40年的晶圓廠量測與檢測技術,瞭解圖形化和元件創新歷史的四大時期,同時提供imec的前瞻量測發展藍圖,其發展動力與多項重大挑戰相關,包含尺寸微縮和3D技術的興起,還有成本和永續發展的需求。…

臺灣大學物理學系邱雅萍教授團隊,16日在國科會舉行記者會,發展其首創「臨場剖面掃描顯微半導體檢測技術」。該技術與師範大學物理學系藍彥文教授、林文欽教授,及新加坡國立大學李連忠教授合作,在先進二維半導體電晶體運作狀態下,以原子級空間解析度直接…

在近年全球智慧化浪潮與邊緣運算技術快速推進下,無線通訊晶片大廠Nordic於台北國際電腦展Computex 2026展會期間,全面展示在物聯網領域的最新突破與策略布局。本次展示的核心概念圍繞在多協議通訊的整合、邊緣人工智慧的導入、開源作業系…

因應現今企業加速導入生成式AI模型是否安全、可信任,已成為產業落地的重要門檻,也帶動AI檢測需求快速成長。工研院今(14)日宣布所開發的「可信任AI自動化評估技術」,已榮獲台灣人工智慧協會(TAIA)2026 AI Award「落地轉型:最…

當台灣工具機正趁勢走向與半導體轉型過程中,仍須克服既存在雙方對於精準量級上定義的本質差異,以及整個物理特性與環境控制的系統性挑戰,也關乎信任與否的文化隔闔。…

面對現代工廠對於生產現場量測技術的要求不盡相同,進入數位化、智慧製造年代,更需要兼顧高速、穩定的量測性能與即時應變能力;甚至於提供AI分析、模擬、訓練所需大量數據,都是使用傳統量檢具者無法應對的難題。 Renishaw早在1972年便率先發…

以往工廠的加工現場多仰賴卡尺、塞規或缸徑規等檢具,來實現製程控制。然而,現代製造業需要超高的運作速度、穩定的量測性能,以及快速應變的能力,使用傳統檢具是無法應對的。 Renishaw在過去 50 多年來不斷創新,致力研發工業量測技術。早於 …

虛擬量測技術是半導體產業從經驗驅動轉向數據驅動的里程碑。它不僅解決了實體量測的瓶頸,更為晶圓廠提供了製程透明度。…

在全球製造業加速邁向智慧化與低碳轉型之際,工具機產業正從「單機性能競爭」轉向「系統整合能力」的全面較量。工具機產業年度盛會「2026台灣國際工具機展(TMTS 2026)」將於3月25日至28日在臺中國際會展中心登場。本屆展會集結友嘉集團、…

Renishaw將於TMTS 2026 (2026 年3月 25 – 28 日) 隆重發佈全新Equator-X™ 500雙效檢具系統,為生產現場的制程需求,提供高速、靈活的檢測方式,一體雙能,高效部署。 Renishaw 亦會於E0802…